告示及びJIS K 0102ならびにJIS K 0170の改正に伴うセミナー(名古屋)

04.16

2019年3月に環告59号 水質汚濁に係る環境基準について、環告64号 排水基準に係る検定方法、環告46号 土壌の汚染に係る環境基準について等、環境分野に係る分析方法が大幅に改正されました。特に、シアン項目にて蒸留から発色までCFA法で行う手法が採用されたことにより、顧客の利便性が飛躍的に向上することが期待されます。また、同時にJIS K 0102ならびに0170の改正が行われました。
そこで、告示ならびにJISの改正の変更点の解説ならびに日々の分析においての効率的な分析の手法について、ご提案します。参加費は無料(事前登録制)です。奮ってのご参加をお待ち申し上げます。参加ご希望のお客様は、本ページ下記のフォームよりお申し込みください。

概要
日時:2019年 6月 10日(月) 10:00~16:30
会場:ウィンクあいち(愛知県産業労働センター)
定員:80名
詳細:こちらをクリック

講師
一般社団法人日本分析機器工業会
 赤沼英雄
 ・JIS K 0102(2019)改正の委員
 ・告示改正に伴う検討委員
ビーエルテック株式会社
 営業部 熊澤頼博
 ・JIS K 0170(2011)分科会及び本委員会 委員
 ・JIS K 0170(2019)分科会及び本委員会 委員

 技術部 理学博士 服部裕史

 営業部 技術士  原弘之
 ・水中健康関連微生物 分科会検討委員

■特別講演■
三井金属鉱業株式会社

講演内容
■JIS K 0102、JIS K 0170及び告示改正の内容について
これまでのJIS及び告示遍歴の経緯及び今回改正があった、JIS K 0102 JIS K 0170ならびに告示の内容詳細を説明いたします。
■連続流れ分析法(CFA法)の原理
連続流れ分析法(CFA法)の測定原理を実際の測定事例をふまえて説明いたします。
■改正流れ分析法(CFA法)を行うにあたっての注意点
告示改正に伴い、ふっ素化合物、全シアン、フェノール類やアンモニア体窒素について、分析方法の変更がありました。これまでと比較して、どのような変更が行われたのか、そして分析を行うにあたっての注意点等を説明いたします。
■酸等試薬自動添加酸分解前処理装置DEENAの紹介
試薬の添加、攪拌、加熱、放冷、そしてメスアップに至るまでを全自動で行う装置”DEENA”!
これまで人の手が介在する必要があった作業からの解放をお約束いたします。DEENAの概要や、実際の測定事例をふまえて紹介いたします。
■栄養成分迅速測定装置ニュートリションアナライザーの紹介
食品表示法が2015年4月1日に施行され、原則として消費者向けに予め包装されたすべての加工食品と添加物に栄養成分表示が義務化されました。従来法では、危険な試薬を使用し、測定に手間と熟練した技術が必要なのに対し、近赤外分析装置では迅速で簡便な測定が可能です。
本講座では「近赤外分析法とは?」という基礎知識と、近赤外分析装置を用いたお弁当・パン・惣菜等食品中における栄養成分分析を、測定事例をふまえて紹介いたします。
■Si自動分析装置の開発(特別講演)
マトリクスを多く含む試料中のSiを分析する方法としては、ICP-OESやICP-MS,吸光光度法などが挙げられるが、前者では、装置の感度不足、トーチからのSi溶出、分子イオンの影響などがあり、また、後者では、マトリクスの影響を受けるため、微量のSiを分析するのは困難であった。
当社とビーエルテック社で共同開発したSi自動分析装置を用いることによって、コンタミを極限まで低減した中でSiを分離定量することが可能になったため、微量のSiをより簡便、迅速、正確に分析する手法を確立することができた。
■第12回「オートアナライザー技能試験」 結果報告
2018年11月末~12月初旬にかけて行われた第12回「オートアナライザー技能試験」の結果について報告させていただきます。
本年度の分析項目は、ふっ素化合物、フェノール類で135試験所からの参加申し込みがありました。本技能試験は、ISO/IEC 17043:2010に基づく技能試験として規格に基づくマニュアルを作成し、手順に従い試料の調製、均質性試験および安定性試験を行い、同一ロットの試料を提供させていただいております。
参加いただいた多試験所の結果に基づく統計評価(Zスコア)の結果、解析方法について報告させていただきます。

プログラム
10:00~
10:30~11:00
11:00~11:40
11:40~13:30
13:30~14:00
14:00~14:45
14:45~15:00
15:00~15:30
15:30~16:00
16:00~16:30
開場、受付
第12回「オートアナライザー技能試験」結果報告
Si自動分析装置の開発 (三井金属鉱業様特別講演)
休憩
JIS K 0102, JIS K 0170及び告示改正の内容について
連続流れ分析法(CFA法)の原理
休憩
改正流れ分析法(CFA法)を行うにあたっての注意点
酸等試薬自動添加酸分解前処理装置DEENAの紹介
栄養成分迅速測定装置ニュートリションアナライザーの紹介


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ビーエルテック株式会社 セミナー開催事務局
大阪市西区江戸堀1-25-7 江戸堀ヤタニビル2F
Tel 06-6445-2332   Fax 06-6445-2437
Mail: seminar@bl-tec.co.jp

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